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PCI共光路干涉弱吸收仪
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测角仪，应力双折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD检测设备，波片相位延迟，剪切
北京昊然伟业光电科技有限公司成立于 2010 年，专业代理欧美（德国、瑞士、美国、波兰等）高精度的光学检测设备，致力于为科研和工业客户提供光学检测解决方案及包括售前、售中及售后在内的服务。主要包括：
光学检测产品：应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等测量系统/剪切干涉仪/非接触式测厚仪/测角仪/可调相位延迟波片等；
激光检测产品：激光功率计、能量计及光束质量分析仪等；
集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等
显微系统所需的XYZ电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。
值得一提的是，近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪，CRD光腔衰荡法高反测量仪，偏心曲率测量仪等产品，为今后的发展壮大奠定了坚实的基础。
详细信息
PCI共光路干涉弱吸收仪测量原理：
右图，Pump 光(泵浦光)为一束光束质量较好的强激光聚焦到待测样品上，光吸收的存在将在样品内部产生热波，从而在样品内部形成周期性的梯度折射率分布，即热透镜效应，当一束Probe beam(探测光)经过热透镜效应区域与pump光相交时，探测光在该焦点处波前发生畸变引起点衍射共路干涉，并产生周期性相位畸变信号。探测器通过探测其相位畸变情况并由锁相放大器信号处理，最后由软件计算显示出待测样品的吸收值。
特点：
精度高: 1 ppm
一次测量可以区分体、面吸收
扫描速度快（几分钟）
对样品规格要求不高
操作方便、简单
应用领域：
光学薄膜
光学晶体材料
光学镜片
PCI共光路干涉弱吸收仪性能：
测量晶体（LBO、YVO4、KTP…）或光学产品（K9、BK7、UVFS…）内部材料的弱吸收（体吸收）
测量晶体或光学产品的表面吸收或薄膜吸收
PCI 指标说明
| 波长 | 常规355、532、1064nm，其它波长可定制 |
| 灵敏度 | 体吸收:1ppm/cm；面吸收:1ppm |
| 样品规格 | 方形、圆形均可 最小尺寸（mm）：3x3x3； 最大尺寸（mm）：50x50x50 其它尺寸可定制 |
| 测试速度 | 常规2min/片（相对6mm厚度） |
| 区分体、面吸收 | 一次测量可以区分体、面吸收 |
| 软件扫描功能 | AbMat-1D: 一维逐点扫描 AbMat-2D: 二维吸收立体扫描 |
| 扫描方式 | 长度/面/时间扫描 |
| 1.光源 | Probe光源 632nmHe-Ne 激光器（imported with original packaging） -最大功率：2mw -功率稳定性：<0.1% -发散角：1.3mrad -偏振比：500:1 Pump光源 #1064nm 光纤激光器 -平均功率： 20W（CW） -光束质量M2：<1.5 -功率稳定性：＜2%(超过5 小时) -偏振：随机 -制冷方式：风冷 -偏振光系统 |
| 2.探测部分 | imported with original packaging 含锁相放大器、光斩波器、探测器、功率计、二维调整架等。 |
| 3.载物台部分 | imported with original packaging 含三维步进电机、样品支架等 |
| 4.光学元件部分 | 反射镜、透镜、功率调节器等 |
| 5.软件部分 | 实时数据采集，自动保存，数据分析等。 一维逐点扫描 二维吸收立体扫描 |
| 6.其它说明 | 建议设备安装在超净间环境； 建议配UPS电源。 |
测量结果及仪器实物图
