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美国Sumix MAX-QS+白光干涉仪测粗糙度
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详细信息
美国Sumix MAX-QS+白光干涉仪测粗糙度 光学3D表面轮廓测量仪
美国Sumix MAX-QS+干涉仪MAX-QS+ 是一款白光相移干涉仪，用于检测单光纤 ST、FC、SC、LC、MU、E2000™（PC 和 APC）、小尺寸多光纤 MT-RJ（PC 和 APC）、SMA 和特殊连接器。MAX-QS+ 具有便携式设计、自动对焦、100 微米光纤高度扫描范围和 1.1 微米分辨率。
该设备通过 USB 3.0 电缆和 12V 直流电源适配器连接到笔记本电脑或台式计算机。
Sumix MAX-QS+ 配备行业的 MaxInspect™ 软件，用于光纤连接器的干涉检测。
Sumix MAX-QS+干涉仪特征：
1：高分辨率 2D 和 3D 表面轮廓
探索小至 1.1 μm 的表面细节。
2：自动对焦
将操作员的操作降至很低，只需单击一下。
3：结合异常检测和几何测试
加快巡检速度，提高工作效率。
4：快速测量
在 2 秒或更短的时间内测量单个光纤连接器。
5：显微镜模式
在测量之前目视检查连接器端面。
6：行业的 MaxInspect™ 自动检测软件
测量曲率半径、顶点偏移、纤维高度等。
7：超过 1000 微米的光纤高度扫描范围
准确检测具有较大不连续性和特殊连接器的套圈表面。
8：数据库连接
将所有本地站点的测量数据存储在一个地方，并轻松地将 Sumix 设备集成到您的制造系统中
MAX-QS+干涉测量系统包括：
MAX-QS+干涉仪
用于设备验证的光学平面标准
USB 3.0 数据线
AC适配器
内六角扳手
箱
MaxInspect™ 软件许可证
Sumix MAX-QS+ 规格
系统
美国Sumix MAX-QS+白光干涉仪测粗糙度
