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Sumix MAX-QM+工业自动干涉仪 光学轮廓仪

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产地类别:进口 应用领域:能源,电子,航天,电气,综合
皕赫科学仪器(上海)有限公司

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详细信息

Sumix MAX-QM+工业自动干涉仪 光学轮廓仪

Sumix MAX-QM+ 是一款自动干涉仪,用于检测 MTP®/MPO、ST、FC、SC、LC、MU、E2000™、SMA 类型的单光纤和多光纤连接器以及 MT、MT-RJ 套圈。

Sumix MAX-QM+ 测量速度快、设计便携、自动对焦和大视场,每排可测试 12 或 16 根光纤,这些都使 MAX-QM+ 成为大批量生产线中广受欢迎的解决方案。

Sumix MAX-QM+ 配备行业的 MaxInspect™ 软件,用于光纤连接器的干涉检测。

Sumix MAX-QM+工业自动干涉仪特征:

1:高分辨率 2D 和 3D 表面轮廓

探索小至 2.2 μm 的表面细节。

2:自动对焦

将操作员的操作降至低,只需单击一下。

3:高达 5700 μm 的大视场

测量从导向孔到导向孔的连接器。

4:快速测量

测量多光纤连接器最快只需 3 秒。

5:与创新的侧视+前视灯具兼容

克服 MTP®/MPO 测量中的电缆张力和套圈定位不确定性,并控制其他参数 – 导孔、平行度和角度。

6:MT16 和 MT32 检验

紧跟最新的市场技术。

7:符合人体工程学的夹具设计

通过轻松插入套圈/连接器和夹具处理来节省时间。

8:数据库连接

将所有本地站点的测量数据存储在一个地方,并轻松地将 Sumix 设备集成到您的制造系统中

MAX-QM+ 干涉测量系统包括:

  • MAX-QM+干涉仪

  • 用于设备验证的光学平面标准

  • USB 3.0 数据线

  • AC适配器

  • 内六角扳手

  • MaxInspect™ 软件许可证

Sumix MAX-QM+工业自动干涉仪 光学轮廓仪

Sumix MAX-QM+ 规格

测量技术:非接触式;迈克尔逊干涉测量法
镜头:NA = 0.15;平坦度误差 < λ/50
照明 灯:绿色 LED (530 nm)
视场角:5.6 × 4.2 毫米
横向分辨率:2.2微米
放大:100×(数码变焦关闭)
重点:自动和手动
最大图像尺寸:2590 × 1940 像素
适合连接器/套圈(PC 和 APC):MTP®/MPO、MT、MT16/32、MT-RJ、SMA、SC、FC、ST、LC、MU、E2000™、MIL 规格终端
显微镜模式:不是





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产地类别 进口
应用领域 能源,电子,航天,电气,综合
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