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Sumix Corporation WIZ-QS-110白光干涉仪
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详细信息
Sumix Corporation WIZ-QS-110白光干涉仪
WIZ-QS-110 是一款自动干涉仪，用于检测单光纤连接器、套圈和裸光纤。WIZ-QS-110 被设计为在大批量生产环境中对光纤连接器进行干涉检测的基本解决方案，在这些环境中，速度、简单性和精度是最重要的。白光测量算法和无需频繁校准的精确对准灯具使其在同类产品中的竞争中脱颖而出。
注：WIZ-QS-110是WIZ-QS+干涉仪的升级型号，保留了其所有优点。
1：适合批量生产
通过轻松插入套圈/连接器和夹具处理来节省时间。
2：自动对焦
将操作员的操作降至很低，只需单击一下。
3：交互式 2D 和 3D 表面轮廓
旋转、缩放、缩放图像以探索小至 2.5 μm 的表面细节。
4：快速测量
使用 USB 3.0 SuperSpeed 连接，最快可在 1.3 秒内测量单根光纤连接器和套圈。
5：一键操作
节省在快速模式下测试大量连接器的时间。
6：行业的 MaxInspect™ 自动检测软件
测量曲率半径、顶点偏移、光纤高度、纤芯倾角等。
7：工厂精确对准的夹具
无需在每次使用前或在灯具之间更换时校准灯具。
8：应用范围广
检查单光纤连接器、套圈、裸光纤、Arinc、MS 终端、PC 和 APC。
9：超过 1000 微米的光纤高度扫描范围
准确检测具有较大不连续性和特殊连接器的套圈表面。
WIZ-QS-110干涉测量系统包括：
WIZ-QS-110干涉仪
用于设备验证的光学平面标准
USB 3.0 数据线
AC适配器
箱
MaxInspect™ 软件许可证
Sumix Corporation WIZ-QS-110白光干涉仪
Sumix WIZ-QS-110规格
光学分辨率：2.5微米
适合连接器/套圈：ST、FC、SC、MU、LC、E2000™、Arinc、MS termini – PC 和 APC，裸光纤
*64 MHz，标准单光纤连接器。
顶点偏移 （μm）：0 至 2000
纤维高度* （μm）：超过 1000**
角度测量 – 全范围（度）：0 至 28
*** * 与扫描物体的高点和低点的差异。
**<默认提供 100 μm。 >100 μm – 用于特殊连接器/任务（需要软件调整）。
*** 常规灯具 – 0， 8， 9度。定制夹具 – 0 -28 度。
* 值是通过连续 30 次测量计算得出的，测量值之间没有连接器交互（连接器固定），代表一个 sigma 值。
纤维高度：0.4 nm
角度：0.0002 度
顶点偏移：0.02 μm
* 值是通过连续 30 次测量计算得出的，在测量之间移除和插入连接器（连接器重新加载），代表一个西格玛值。
纤维高度：0.5 nm
角度：0.007 度
顶点偏移：1.1 μm
