Sumix MAX-Quantum 白光干涉仪 厂家代理

MAX-Quantum是一款自动干涉仪，用于单次扫描中检测MTP/MPO, ST, FC, SC, LC, MU, E2000类型的单光纤和多光纤连接器以及MT, MT- RJ插针。

MAX-Quantum 干涉仪同时提供端面几何检测、异常检测和导孔平行度和角度测量。MAX-Quantum 干涉仪具有高光学分辨率，自动对焦和视场角范围广，每排可测试16根光纤。

Sumix MAX-Quantum 干涉仪主要特征：
2D和3D表面轮廓分辨率高： 可以探测小至1.47 μm的表面细节。
自动对焦： 只需点击一下，可以最大限度地减少操作员的动作。
结合异常检测和几何测试：快速检查，提高工作效率。
快速测量：测量单光纤连接器1.4秒，测量多光纤连接器7秒。
与固定装置兼容：克服MTP®/MPO测量中的电缆张力和套圈定位不确定性，并控制附加参数-导孔平行度和角度
MT16和MT32检验：掌握最新的市场技术。
数据库连接：将所有本地站点的测量数据存储在一个地方，并轻松将Sumix设备集成到您的制造系统中
业界的MaxInspect™自动检测软件：测量曲率半径，顶点偏移，纤维高度，芯倾角等。
遵从行业标准：根据IEC, Telcordia或您自己的合格/不合格标准进行测试。

Sumix MAX-Quantum 干涉仪技术参数：

测量技术: 非接触式，迈克尔逊干涉仪
镜头: NA = 0.22
照明: 绿色LED (530nm)
视场: 6.0 × 4.4 mm
横向分辨率: 1.47µm
放大倍数: 200x(数码变焦关闭)
聚焦: 自动和手动
最大图像尺寸: 4096 × 3000像素

可匹配连接器/连接管(PC和APC): SC, FC, ST, LC, MU, E2000™, MTP®/MPO, MT16/32, MT-RJ, MT, SMA
显微镜模式: 是的
测量模式: 相移和白光
扫描计算时间（测量时间可能因计算机性能和连接器端面形状而异）：单光纤1.4秒; MT12/24 7秒; MT16为7.2秒; 异常检测MT24为7.57秒; MT72为10.4秒。
测量范围: ROC (mm): 1至flat; 顶点偏移量(μm): 0 ~ 2000; 光纤高度* (μm):大于1000; 角度测量-全范围(度):0至28
可重复性C.F.:     Roc: 0.9% (mt12);0.04% (SC / APC)
光纤高度:0.8 nm (MT12);0.1 nm (SC/APC)
角度:0.005度(MT12);0.0002度(SC/APC)
顶点偏移:0.04µm (SC/APC)
可重复性C.R. :   Roc: 1.2% (mt12);0.05% (SC / APC)
光纤高度:1.1 nm (MT12);0.4 nm (SC/APC)
角度:0.01度(MT12);0.006度(SC/APC)
顶点偏移:1.0µm (SC/APC)

Sumix MAX-Quantum 干涉仪系统需求：

Windows 10
Intel Core i7
4GB或更高内存
内置英特尔USB 3.0控制器
Microsoft Excel 2010或更高版本

MAX-Quantum干涉测量系统包含:
MAX-Quantum干涉仪
光学平面标准用于设备校准
USB 3.0电缆
AC 适配器
包装箱
MaxInspect™软件
夹具和其他配件需另外订购

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