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eScan 315 晶圆检测仪

型号
eScan 315
参数
产地类别:进口 应用领域:电子,综合
深圳市达瑞博电子有限公司

高级会员1年 

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手机综测仪、网络分析仪、频谱分析仪、信号发生器,示波仪,信号分析仪,程控电源,万用表,综合测试仪

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详细信息

HMI eScan 315晶圆检测仪是一款由HMI公司制造的自动化晶圆和掩模检查设备,旨在为图案化晶圆和光罩检查过程提供经济高效的解决方案。该系统采用专有的PAT-FINDER图像处理器,并利用三通道彩色CCD相机准确捕捉高达143个晶圆或掩模的图像。


HMI eScan 315晶圆检测仪具有高级运动控制功能,包括多轴扫描和插值运动控制,能够进行自动对准、扫描、照明和分析,以进行全面的缺陷审查,最大分辨率高达26百万像素。此外,它还具备强大的技术、先进的运动控制功能和模块化工程设计,是任何行业或研究机构的理想选择。


需要注意的是,HMI eScan 315与HERMES MICROVISION / HMI eScan 315xp是不同的型号。后者是一款功能更强大、高精度的掩模和晶圆检测设备,拥有先进的成像技术和软件,提供自动缺陷检测、测量、分割和分类能力,一直到纳米级。eScan 315xp还结合了电子束光学、低温扫描系统和高度的图像解析算法,为用户提供了无与伦bi的精度和准确性。


HMI eScan 315是一款功能强大且经济高效的晶圆和掩模检查设备,适用于各种行业和研究机构的需求。

产品概述

自动化晶圆和掩模检查设备

设计用于图案化晶圆和光栅检查过程

技术特点

高精度成像技术

先进的图像处理器PAT-FINDER

三通道色彩CCD相机

最大分辨率高达26百万像素

功能能力

自动缺陷检测、测量、分割和分类

纳米级检测能力

全面缺陷审查

检测划痕和沉积物在晶圆表面

技术优势

高级运动控制功能,包括多轴扫描和插值运动控制

超快的样本扫描时间

自动化软件工具用于缺陷检测

应用领域

半导体行业上的纳米级误差检测

纳米级表面缺陷检测无与伦bi的精度和准确性

市场表现

多个销售渠道可供选择,包括CAE、Moov等




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产品参数

产地类别 进口
应用领域 电子,综合
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