- 面议
参考价：
起订量：
AIT I 晶圆检测仪
- 型号
- AIT I
手机综测仪、网络分析仪、频谱分析仪、信号发生器,示波仪,信号分析仪,程控电源,万用表,综合测试仪
深圳市达瑞博电子有限公司 经销批发的手机综测仪、网络分析仪、频谱分析仪、信号发生器、示波仪、信号分析仪、程控电源、万用表、综合测试仪消费者市场，在消费者当中享有较高的地位，公司与多家零售商和代理商建立了*稳定的合作关系。深圳市达瑞博电子有限公司经销的手机综测仪、网络分析仪、频谱分析仪、信号发生器、示波仪、信号分析仪、程控电源、万用表、综合测试仪品种齐全、价格合理。深圳市达瑞博电子有限公司实力雄厚，重信用、守合同、保证产品质量，以多品种经营特色和薄利多销的原则，赢得了广大客户的信任。
详细信息
KLA-Tencor AIT I 晶圆检测仪
是一种用于检测图案化晶圆表面缺陷的系统。该系统配置为处理6英寸（150毫米）和8英寸（200毫米）的晶圆，并具备自动对焦和双暗场检查功能。此外，它还配备了多通道采集光学系统、独立可编程的空间滤波器以及X/Y驱动/控制器机架和运动控制器卡。
AIT I 系统是一种高速晶圆测试和计量系统，旨在检测即使是最小的、可能降低产量的隐形对眼缺陷，从而为半导体制造企业提供更好的质量控制和更高的产量。这种系统的使用可以显著提高生产效率和产品质量，确保在生产过程中及时发现并修复潜在问题。
KLA-Tencor AIT I 的主要特点包括：
- 处理6英寸和8英寸晶圆的能力。
- 配备多通道采集光学系统和独立可编程的空间滤波器。
- 自动对焦和双暗场检查功能。
- 提供高精度的缺陷检测能力，能够快速准确地识别并分类各种类型的缺陷。
这些特性使得KLA-Tencor AIT I 成为半导体制造中的重要工具，帮助制造商提高良率和生产效率。
KLA-Tencor AIT I 系统概述
配置用于6"/150mm & 8"/200mm晶圆
多通道收集光学系统，独立可编程空间滤镜
X/Y驱动/控制器机架和运动控制器卡
