产品

光电少子寿命测试仪

晶锭方阻电阻率测试仪

硅片方阻电阻率

KDKLT-100C 数字式硅晶体少子寿命测试仪/高频光电导寿命测试仪（测单晶） 型号：KDKLT-100C

KDKLT-1 高频光电导寿命测试仪/高频光电导少子寿命测试仪（学校用） 型号：KDKLT-1

KDKLT-1B 高频光电导少子寿命测试仪/高频光电导寿命测试仪（生产用） 型号：KDKLT-1B

KDKLT-200 数字式硅晶体载流子复合寿命测试仪/少子寿命测试仪（铸造多晶） 型号：KDKLT-200

KDKLT-200 少子寿命测试仪（铸造多晶） 型号：KDKLT-200 中慧

KDKLT-1B 高频光电导寿命测试仪（生产用） 型号：KDKLT-1B 中慧

KDKLT-1 高频光电导少子寿命测试仪（学校用） 型号：KDKLT-1 中慧

KDKLT-100C 高频光电导寿命测试仪（测单晶） 型号：KDKLT-100C 中慧

SCFBC-352 晶闸管少子寿命测试仪

美国Sinton WCT-120+Suns-Voc少子寿命测试仪器

MDPspot少子寿命测试仪

MDPlinescan在线少子寿命测试仪

ZD-LT-100C 数字式硅晶体少子寿命测试仪