光学膜厚仪是一款台式光学薄膜测厚仪,可测量薄膜厚度,测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率,测量薄膜荧光,也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量折射率n和k。
这套光学薄膜测厚仪,光学膜厚仪基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k).
光学薄膜厚度测量仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。

光学薄膜测厚仪,光学膜厚仪特点
易于安装
软件基于Windows系统，方便使用
**光学设计，良*系统表现
阵列光谱探测器保证快速测量
测量薄膜厚度和折射率高达5层
可测量反射，透射和吸收光谱
可用于实时在线的薄膜厚度和折射率测量
具有齐全的材料光谱舍数据库
可升级到显微分光光度计
适合不同衬底和不同薄膜厚度测量
宽带光学薄膜测厚仪参数
波长范围：250-1700nm
光点大小：500um - 5mm
样品大小：200x200mm 或200mm 直径
衬底厚度： 高达50um
测量薄膜厚度范围： 2nm -150um
测量时间：***小2ms
精度：0.5%
重复精度：<1A
光学薄膜测厚仪,光学膜厚仪应用
半导体制造
液晶显示屏测量
刑侦
生物膜测量
矿石地质分析
制药医学分析
光学镀膜测量
功能薄膜MEMS测量
太阳能电池薄膜测量