这款手动晶圆测试探针台是专业为晶圆测试设计的专业手动探针台,可满足6英寸,8英寸和12英寸晶圆测试需要,测试温度范围室温~350℃,特别适合高温和低温环境下晶圆温度特性测试。
手动晶圆测试探针台特点
可选择6'',8''晶圆和12''晶圆配置
测试温度：室温~350℃
可选择芯片固定配件
可配备护罩，防止露水凝结
可配备护罩，提供较低噪音环境
使用空气快速定位的测微计进行粗略移动和微调
压盘的Z运动有粗运动和细运动，粗运动可以用杠杆操作可以用千分尺调整。

手动晶圆测试探针台可选品防护外罩
手动晶圆测试探针台应用
Low level IV (fA)和Low level CV (fF)
高功率器件探针测试：20KV DC/200A
RF测试
各种电阻测量，如sheet电阻测量
高温和低温环境下的温度特性测试
可靠性测试，如TDDB
手动晶圆测试探针台可选配件
Thermal chuck from室温 ~+350°C
355nm~1064nm激光切割机
各种光源
三目显微镜（标配体视显微镜）
CCD相机
手动晶圆测试探针台可以连接配合的测试仪器
设备分析仪/参数分析仪
功率器件分析仪
源度量单位
曲线跟踪器
精密LCR仪表
数字万用表
阻抗分析仪
网络分析器
手动晶圆测试探针台规格参数