透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，*地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。

         透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。

性能指标
 

透射电镜指标：

● 兼容电镜型号及极靴；

● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；

● 保证透射电镜原有分辨率。

电学测量指标：

● 包含一个电流电压测试单元；

● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；

● 电流分辨率：优于100 fA；

● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；

● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。

扫描探针操纵指标：

● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；

● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；

● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。

光纤指标：

● 光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；

● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜；

● 可选SMA接头、FC接头。

产品特色

（1）采用双向光纤，可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究；

（2）光电一体化解决方案，具有高拓展性；

（3）高稳定性，保证电镜原有分辨率。

以上就是北京麦迪森科技有限公司提供的透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统，详细了解：153-01-31-01-16