透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，*地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。

透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标配STM-TEM样品杆内集成纳牛力传感器，实现高精度的力学及电学测量。

性能指标
 

 透射电镜指标：

● 兼容电镜型号及极靴；

● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；

● 保证透射电镜原有分辨率。

电学测量指标：

● 包含一个电流电压测试单元；

● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；

● 电流分辨率：优于100 fA；

● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；

● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。

扫描探针操纵指标：

● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；

● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；

● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。

力学传感器指标：

● 悬臂梁弹性范围1 N/m~100 N/m；

● 载荷分辨率优于5 nN（使用1 N/m悬臂梁时）；

● 自动测量力-距离曲线，自动保存。

产品特色
 

（1）可保证电镜原有分辨率，即使在球差内也可以拍到清晰原子像；

（2）操纵稳定性好，压电陶瓷驱动方式，保证高精度的操纵。样品杆具有很高的稳定性  ，探针移动平稳，实现高分辨原位观察实验；

（3）操作简便，软件界面友好易操作。控制器集成电流电压测试单元，满足大多数实验需求。位移粗调和细调全软件操作；

（4）力电一体化解决方案，力学和电学配置可满足大部分测试需求。

以上就是北京麦迪森科技有限公司提供的透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统，详细了解：15-301-310-116