一、XRF-2020L镀层测厚仪韩国微先锋膜厚仪检测范围：
1、测量：各类五金,电子连接器端子半导体等电镀层厚度。
2、可测：金,镍,铜,锌,锡,银,铬,铑,铂,锌镍合金等镀层。
3、可测：单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。
4、适应：电镀生产企业，产品来料检测半导体五金电镀等相关行业。
5、可测：单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层
（1）镀银测量范围0.1-50um
（2）镀镍测量范围0.5-30um
（3）镀铜测量范围0.5-30um
（4）镀锡测量范围0.5-50um
（5）镀金测量范围0.02-6um
（6）镀锌测量范围1-30um
（7）锌镍合金测量范围1-25um
（8）镀铬测量范围0.5-25um
6、仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
7、多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
8、可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
二、韩国先锋XRF-2020L型H型功能特点：
1、全自动台面，自动雷射对焦，多点自动测量；
2、仪器全系均为全自动台，自动雷射对焦；
3、多点自动测量；
4、可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换；
5、快速无损测量电镀层厚度，可测单镀层，双镀层，多层镀层及合金镀层。
