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X射线镀层测厚仪X-RAY膜厚仪XRF-2020
韩国Micropioneer
测量单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层
镀银测量范围0.1-50um
镀镍测量范围0.5-30um
镀铜测量范围0.5-30um
镀锡测量范围0.5-50um
镀金测量范围0.02-6um
镀锌测量范围1-30um
锌镍合金测量范围1-25um
镀铬测量范围0.5-25um
X射线镀层测厚仪X-RAY膜厚仪XRF-2020
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
功能特点：
XRF-2002膜厚仪X射线荧光法，该技术已经被证实并且得到广泛应用
可在建立测量曲线存储的情况下提供易于操作、快速和无损的电镀镀层厚度的测量。
范围包括从元素周期表中的Ti 22到 U92
XRF-2020具有大小不同的样品舱:
广泛应用在电子电镀,五金端子连接器,半导体框架,PCB板等
行业,快速无损测量镀金,银,镍,锡,锌,铜,锌镍合金等
