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X射线测厚仪韩国微先锋XRF-2020膜厚仪
韩国Micropioneer
xrf-2020l测厚仪韩国微先锋膜厚仪
可测
单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层
镀银测量范围0.1-50um
镀镍测量范围0.5-30um
镀铜测量范围0.5-30um
镀锡测量范围0.5-50um
镀金测量范围0.02-6um
镀锌测量范围1-30um
锌镍合金测量范围1-25um
镀铬测量范围0.5-25um
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
韩国先锋XRF-2020L型H型
MicropXRF-2000,XRF-2020
韩国微先锋XRF测厚仪
X-RAY电镀膜厚测量仪
功能
特点:
全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
仪器全系均为全自动台,自动雷射对焦!
多点自动测量
X射线测厚仪韩国微先锋XRF-2020膜厚仪可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
电镀测厚仪X-RAY膜厚仪XRF-2020快速无损测量电镀层厚度,可测单镀层,双镀层,多层镀层及合金镀层