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XRF-2020韩国电镀层测厚仪X-RAY膜厚测量仪
快速无损测量电镀层膜厚
型号规格如下图:
XRF-2020测厚仪韩国Micropioneer膜厚测量仪
产品功能：
1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材！
1. 镀层元素范围：钛～铀，包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、金，铬，锌镍合金等。
2. 镀层层数：可测5层。
3. 测量产品位置尺寸：标准配备0.2mm准直器,测量产品大于0.4mm(可订制更小准直器)
4. 测量时间：通常15秒。
5. H型号机箱容纳样品尺寸：550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。
6 L型号机箱容纳样品尺寸：550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。
7. 测量误差：通常小于5%，视样品具体情况而定。
8. 可测厚度范围：通常0.01微米到60微米
XRF-2020韩国电镀层测厚仪X-RAY膜厚测量仪
工作方法：通过CCD镜头观察样品仓
快速无损测试电镀层厚仪
测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
可测量单镀层,双镀层,多镀层及锌镍合金镀层
