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美国 Sterlitech Silver滤膜
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面议LK TECHNOLOGIES 高分辨电子能量损失谱仪
面议美国 LK TECHNOLOGIES 俄歇能谱仪
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面议PREVAC 傅里叶变换红外光谱统
面议Nonsequitur 高能离子枪 离子源 真空
面议Nonsequitur 20kV 离子枪 离子源 真空
面议美国 IK-TECHNOLOGIES 电子能谱仪MINICMA™
Analyzer / electron spectrum MINICMA™ 分析器/电子谱minicma™
Characteristics
特点
Measured value:
测量值:
electron spectrum
电子谱
美国 IK-TECHNOLOGIES 电子能谱仪Description
描述
Performance Features
性能特点
Mounting on 2.75″ (70 mm) flange
安装在2.75“(70毫米)的法兰
Retractable with linear motion feedthrough
可伸缩的线性运动的馈通
General electron energy analysis including Auger and Photoelectron spectroscopy
包括俄歇和光电子能谱的一般电子能量分析
Double-pass optics with energy resolution better than 1.5
双通光学与能量分辨率优于1.5
Ideal for experiments not accessible by conventional bulky analyzers
理想的实验不可访问的常规笨重的分析仪
Combine with the RVL2000 LEED optics for a low-cost, high-performance LEED/Auger system
结合低成本的高性能光学rvl2000 LEED,LEED /钻系统
电子能谱仪:对固体表面进行微区成份分析及元素分布。可应用于半导体材料、冶金、地质等部门。
电子能谱仪是利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系,由此来判断样品表面各种元素含量的仪器。电子能谱仪可分析固、液、气样品中除氢以外的一切元素,还可研究原子的状态、原子周围的状况及分子结构,在表面化学分析、分子结构、催化剂、新材料等研究领域中已得到应用。
电子能谱仪主要用途:1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析;2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定;3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析,如:金属化膜表面镀层的检测;4、金银饰品、宝石首饰的鉴别,考古和文物鉴定,以及刑侦鉴定等领域;5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、线、点分布分析。
Analyzer / electron spectrum MINICMA™ 分析器/电子谱minicma™