美国 IK-TECHNOLOGIES 多探针分析系统：UHV 

除了表面分析组件外，LK Technologies还专门设计和构建完整的特高压系统，这些系统通常结合了LK组件和其他制造商的多种表面分析方法。

这些系统的常见元件是精密UHV室，主泵（通常是离子泵），辅助泵（通常是涡轮分子），精密样品操纵器，安装框架和真空计量。客户通常要求的可选组件是快速样品引入系统（加载锁定）和烘烤控制。

请联系LK获取更多信息，并讨论您的自定义系统要求。多探针分析系统是全球实验室提供的一个例子：

美国 IK-TECHNOLOGIES 多探针分析系统多探针分析系统，包括XPS分析，X射线单色仪，半球形分析仪，AES，ISS，多通道HREELS和带有快速样品加载系统的完整样品制备室。

探针分析仪：1.进行1微米内B-U的各元素定量分析 2.20～20万倍扫描图像观察 3.X射线能谱快速定量分析 4.阴极射线致发光分析应用范围： 用于对地质、冶金、有色、玻璃、陶瓷、新材料、纳米材料等机材料的分析。可解决地质、冶金、有色、材料、机械等领域内的许多科研、生产等重大实际问题。

各种材料的成分、结构解析，包括金属材料、电子材料、表面材料、超硬材料、硅酸盐材料、化工材料、光学材料、生物材料等，如催化剂、焊料、红外窗口、金刚石膜、电子开关材料、光导纤维等的解析。 特种金属及其制品的分析鉴定与纯度分析，超细材料、纳米材料、磁粉的粒度测定。镀层材料的成分与厚度的测定，各类宝玉石的分析与质量评估，金、银、铂贵金属制品的分析与鉴别，各类非金属矿产品的质量评估，生物、医学、农业中的无机材料和有机材料中的无机盐分析等。