OTSUKA/日本大冢 品牌
生产厂家厂商性质
苏州市所在地
OPTM series薄膜测厚仪
大塚电子薄膜测厚仪使用显微光谱法在微小区域内通过反射率进行测量，可进行高精度膜厚度/光学常数分析。
可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各种膜、晶片、光学材料和多层膜。 测量时间上，能达到1秒/点的高速测量，并且搭载了即使是初次使用的用户，也可容易出分析光学常数的软件
特点
OPTM-A1 | OPTM-A2 | OPTM-A3 | |
波長范围 | 230 ~ 800 nm | 360 ~ 1100 nm | 900 ~ 1600 nm |
膜厚范围 | 1nm ~ 35μm | 7nm ~ 49μm | 16nm ~ 92μm |
测定时间 | 1秒 / 1点 | ||
光斑大小 | 10μm (小约5μm) | ||
感光元件 | CCD | InGaAs | |
光源規格 | 氘灯+卤素灯 | 卤素灯 | |
电源規格 | AC100V±10V 750VA（自动样品台规格） | ||
尺寸 | 555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自动样品台规格之主体部分) | ||
重量 | 约 55kg（自动样品台规格之主体部分） | ||
测量项目：
