OTSUKA/日本大冢 品牌
生产厂家厂商性质
苏州市所在地
产品信息 特 长 薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析 高性能的低价光学薄膜量测仪 藉由反射率光谱分析膜厚 完整继承FE-3000机种90%的强大功能 无复杂设定，操作简单，短時間內即可上手 线性小平方法解析光学常数（n:折射率、k:消光系数） 测量项目
产品规格
选配功能 |
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※1 请于本公公司联系联系我们
※2 对比VLSI标准样品（100nm SiO2/Si），范围值同保证书所记载
※3 测量VLSI标准样品（100nm SiO2/Si）同一点位时之重复再现性。（扩充系数2.1）
应用范围
半导体晶圆膜（光阻、SOI、SiO2等）
光学薄膜（OC膜、AR膜、ITO、IZO膜等）
测量范例
PET基板上的DLC膜
