美国GGB探针简介：

  GGB ST系列硬针   (钨材质 ，常用款，推荐)

   ST系列硬针是 0.020 inch (0.51mm) 直径钨材质针杆经过精密电化学加工成为不同的针尖直径  ，长度为  1.5inch(38.1mm)的探针。    这 种探 针应用与绝大多数的芯片电极点测和线路点测。    ST系列硬针可以用于与刮擦或者刺穿芯片表面钝化层。    该探针可以选择表面镀镍， 如果选择 镀镍则型号后面增加   “NP”。

ST系列硬针规格

ST系列探针尺寸图

ST系列探针实物

   GGB T-4 系列软针   (钨材质)

•T-4 系列软针较多的应用于点测集成电路的线路 ，电极 ，或者  FIB(聚焦离子束) 制作的 mini 电极。

•T-4 系列软针的结构采用不同直径钨材质针须焊接于镀锡的铜材质针杆上。

•其中 T-4-10 和 T-4-22 两款是客户反馈比较有优势的型号 ，因为其针须直径较细  ，具有良好的弯曲弹性  ，能够极大的减少对芯片电极 的损害  ，在部分震动环境下面也能够保证和电极的良好接触。

T-4 系列硬针规格

C.        GGB 高性能微波探头  (可提供无磁款)

常用Model 40A系列

产品特点：

( 1)   测试频率范围：      DC to 40 GHz

( 2)   输入衰减   ≤ 0.8db

( 3)   反射损耗≧ 18 db

(4)   脚间距:25 to 2540um可选  (脚间距越大  ，    损耗越严重)

( 5)   测试重复性优于-80db

( 6)   单独弹簧加载触点设计

( 7)   材质：      BeCu , TungQRen or Nickel tips available

( 8)     GSG  ，    SG  ，    SG  ，    GSGSG 等可选

( 9)   同轴设计

S12 与 S11 实测数据  (插损和回损)

 产品选型：

Example：    40A-GSG-150-P 代表频率最高到 40G ，GSG 三个端口 ，其中G与S之间的脚间距是150um ，外形是  P 型。 Model 40-  (端口)  -  (间距)  -  (外形)

备注：在磁场中 ，一般选用无磁款。

QRyle 风格：       (特殊要求，可以客制化)

D.   GGB 12C有源探头

•输入电容0.1pf

•输入电阻1.0兆欧

•工作电压范围 -10 to +20V

•带宽dc to 500 MHz

• 12C夹具替换用探针  ( 12C-x-xx)

•射频探针夹具源 ，可以同时支持两个探头使用  ( PS-2)

美国APT开尔文探针

电学特点：

Current leakage: < 10 fA   (漏电精度高)

Frequency: > 150 MHz       (测试频率高)

Capacitance (Guarded): < 10 fF

Impedance: 50 Ohm

Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C

Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level

备注：

APT开尔文探针适用于四线法测试 ，以减小线阻和接触电阻对测试的影响 ，保证小电阻的测试准确性。

另外 ，一些高频测试 ，比如150M左右 ，也可以采用这个。