美国APT开尔文探针简介：

   开尔文探针是一种基于振动电容的非接触无损气相环境金属表面电位的测量技术，用于测量材料的功函数(Work Function)或表面势(Surface Potential)。它可以用于检测气相环境中因温度、湿度、表面的化学、电学、力学、晶体、吸附、成膜等因素引起的材料表面电势的微小变化，是一种高灵敏的表面电化学分析技术，是只有能够测定气相环境中腐蚀电极表面电位的方法。

美国APT开尔文探针电学特点：

Current leakage: < 10 fA   (漏电精度高)

Frequency: > 150 MHz       (测试频率高)

Capacitance (Guarded): < 10 fF

Impedance: 50 Ohm

Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C

Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level

备注：

APT开尔文探针适用于四线法测试 ，以减小线阻和接触电阻对测试的影响 ，保证小电阻的测试准确性。

另外 ，一些高频测试 ，比如150M左右 ，也可以采用这个。

D.   GGB 12C有源探头

•输入电容0.1pf

•输入电阻1.0兆欧

•工作电压范围 -10 to +20V

•带宽dc to 500 MHz

• 12C夹具替换用探针  ( 12C-x-xx)

•射频探针夹具源 ，可以同时支持两个探头使用  ( PS-2)

常用Model 40A系列

产品特点：

( 1)   测试频率范围：      DC to 40 GHz

( 2)   输入衰减   ≤ 0.8db

( 3)   反射损耗≧ 18 db

(4)   脚间距:25 to 2540um可选  (脚间距越大  ，    损耗越严重)

( 5)   测试重复性优于-80db

( 6)   单独弹簧加载触点设计

( 7)   材质：      BeCu , TungQRen or Nickel tips available

( 8)     GSG  ，    SG  ，    SG  ，    GSGSG 等可选

( 9)   同轴设计