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TESCAN MAGNA是一款功能极其强大的分析 仪器,适用于纳米材料的形貌表征以及微观分析。 MAGNA配置Triglav™型SEM镜筒,具有超高分 辨率,镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力, 可以获得更好的图像衬度和表面灵敏度,非常适用 于不导电样品的成像,如陶瓷、无涂层生物样品, 以及半导体光敏样品等。
MAGNA配备肖特基场发射电子枪,能够提供 高达40。nA的束流,结合TriglavTMSEM镜筒出色 的纳米尺度分析性能和高稳定性,为锹分析和长耗 时样品的分析应用提供了最佳条件。
强大的TrileW 三物镇系统
TESCAN MAGNA 配备的 Triglav™ 型 SEM镜筒,具有TriLensTM三物镜系统,适用领域 更加多样化。
TriSE™和TriBE™探河器系統
MAGNA配备最新一代TriSE™和 TriBE™探测■系统:包含三个二次电子探测器和 三个背散射电子探测器,可以根据角度和能量的差 异选诲地收集信号。
• SE 分辨率:0.6 nm@15kV
• BSE 分辨率:1.6nm@15kV
• 探测器系统,可根据角度和能量的差 异选择性地收集信号
• 电子束流高达400 nA,电压也可剛改变, 并保证在所有的分析应用下都能够获得良好 的信号
• 具有优异的低束流能最下检测能力,是表征 表面无镀膜的生物样品的理想工具
• 全新的TESCAN Essence™软件,可自定 义布局,大化工作效率
1.混有金纳米颗粒的黑硅,In-Beam SE探测器成像。
2.TiO2纳米管,in-column SE探测器成像。
3.碳纳米管(约lOOnm),分布有1-7 nm的金属纳米颗粒,STEM成像后根据 STEM不同类型信号进行上色的伪彩虱
4.脑组织的突触,in-column BSE探测器成像。