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TESCAN CLARA SEM扫描电子显微镜是一款应用广泛的多功能扫 描电子显微镜,是基于成功的S8000基础上进一步 研发的,其设计更能满足材料科学的需求,适用于 对各种不同类型材料的分析和表征。
TESCAN CLARA SEM扫描电子显微镜是真正灵活的分析平台,能 得到具有好衬度的优质图像。无论样品是否导 电、有无磁性、是有机还是无机材料, CLARA均可提供理想的图像,这得益于具有电子 信号过滤功能的良好探测系统和可变真空环境的系 统设计。
BrightBeam™SEM 镜筒
最新的BrightBeam™ SEM镜筒,实现了无磁 场高分辨成像,适用于磁性样品分析。新型镜筒中 的电子光路设计增强了低能量电子成像分辨率,特 别适合分析电子束敏感样品和不导电样品。
多探测器成像分析
CLARA配置最新的多种探测器,可 选择不同角度和能量收集信息,体现更多种类的 信息,同时能够获得更好的表面灵敏度和对比度。
SE 分辨率:0.9 nm@15kV
• 1.2 nm @ 1 kV
• 配置静电■电磁复合物镜,物镜无磁场外泄, 可实现磁性样品超高分辨成像和分析 新一代镜筒内电子加速、减速技术,保证复 杂样品的低电压高分辨观测
• 配置4个新一代探测器,可实现9种图像观 測,样品信息采集更加全面
• 超过20个扩展接口,可配置多种分析附件, 并实现Raman 一体化集成
1、硅基底上的镀金颗粒。
2、陶瓷断裂表面,2 keV成像。
3、在Cyr。条件下观察到的真菌弛子。
4、用TESCANCL探测器获得的石英晶体的CL图像。