Simultix15-半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪_半导体测量设备-玉崎科学仪器（深圳）有限公司手机版

详细介绍

半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪

凭借高速样品传输系统、高速数据处理以及强大而稳定的X射线，可以比扫描型设备在更短的时间内进行更高精度的测量。

最多可测量 40 个元素（标准配置为 30 个）。测量范围从Be到U。

这是第一台将双曲晶体整合到固定光谱仪中的同步荧光X射线光谱仪，比传统的单曲晶体具有更高的灵敏度。

新开发的人工累积膜“RX85”在Be（铍）和B（硼）分析方面，与传统产品相比，灵敏度提高了30%。

配备衍射通道，可以用一台装置进行使用X射线荧光和X射线衍射的定量分析。可对烧结矿中的 FeO（氧化铁）和水泥熟料中的游离石灰 (f.CaO) 进行定量分析。

我们采用了高度可靠的真空系统，具有稳定轻元素分析的真空度稳定机构和防止粉末样品飞散的真空速度切换机构。

可配备自动样品交换器（ASC48）。此外，通过连接全自动玻璃珠制造设备和自动压力成型机等样品预处理设备，可以实现自动化。

它可以配备可以从O（氧）测量U（铀）的重元素和轻元素扫描测角仪，或者可以从Ti（钛）测量U（铀）的重元素扫描测角仪。对于不常分析的元素的定性分析、半定量分析和定量分析非常有效。

・合金化热浸锌（GA）镀层中的Fe含量分析
・钛酸钡的高精度摩尔比分析
・水泥熟料中游离石灰的定量分析
・烧结矿中FeO的定量分析
・铁矿石的定量分析

产品名称	Simultix15
方法	波长色散射线荧光分析 (WDXRF)
目的	固体、粉末和合金的高通量元素分析
技术	同步波长色散射线荧光分析 (WDXRF)
主要部件	3/4kW端窗式X射线管、自动真空控制机构（APC）、“数字多通道分析仪（D-MCA）”
选项	XRD 通道、扫描测角仪、自动进样器
控制（电脑）	外部 PC、MS Windows® 操作系统、Simultix 软件
机身尺寸	880(宽)×1700(高)×1300(深)mm
体重（身体）	约700公斤
电源	三相 200 VAC 50/60 Hz，40 A