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半导体设备日本理学Rigaku射荧光射线分析仪
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面议玉崎科学半导体设备理学Rigaku高精度射线
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面议日本理学Rigaku单晶结构分析射线探测装置
日本理学Rigaku单晶结构分析射线探测装置
XtaLAB Synergy-R 是 XtaLAB Synergy 系列中配备微焦点旋转阳极阴极型 X 射线源的型号。配备PhotonJet-R,一种微焦点型高亮度射线源,结合了MicroMax007系列高亮度X射线发生器的最新型号MicroMax007HFMR,具有良好的交付记录,以及新型人造多层镜。可以照射比 XtaLAB Synergy-S 大约强 12 倍的 X 射线。通过结合高强度X射线源(PhotonJet-R)、高速高精度测角仪和高速读出HPC探测器(HyPix-6000),实现超高速、超高精度测量都实现了。结合自动结构分析,它将加快您的研究速度。
它还可用于测量蛋白质晶体和微晶体的弱衍射线,以及需要高分辨率的精密结构分析。
PhotonJet-R的旋转对阴极射线源具有压倒性的亮度,输出功率为1.2kW,有效焦点为φ70μm。
与 XtaLAB Synergy-S 相比,它照射的 X 射线束强度约为 XtaLAB Synergy-S 的 12 倍。
它还可以测量约 10 μm 的极小样品,这在以前是无法测量的。
高强度 X 射线和无快门测量的结合显着缩短了测量时间。它也是理想的共享设备,因为可以测量更多样本。每个样品的运行成本也降低了。
与AutoChem结合,从筛选到结构分析的总时间显着缩短。
使用 XtaLAB Synergy-S 需要一周的测量,使用 XtaLAB Synergy-R 可以在不到一天的时间内完成。
除Cu射线源外,还可安装Mo射线源和Ag射线源。它支持高压测量和高分辨率测量等广泛的应用。
高强度X射线和单光子检测混合像素探测器使得即使在蛋白质晶体和无序结构晶体等难以检测的样品中也能检测到高角度衍射线。
凭借其高强度 X 射线、可大角度移动的 2θ 轴以及高精度探测器,它是精密结构分析测量的理想选择。
更换灯丝仅需45分钟。高可维护性最大限度地减少了停机时间。
产品名称 | XtaLAB Synergy-R | |
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方法 | 单晶射线衍射 | |
目的 | 对各种单晶进行高速结构分析 | |
主要部件 | 微焦点型高亮度X射线源PhotonJet-R、HPC探测器(HyPix)、k测角仪 | |
选项 | Oxford Cryostream、Cobra、XtalCheck-S、智能测角头等 | |
控制(电脑) | 外部 PC、MS Windows® 操作系统、CrysAlisPro 软件 | |
机身尺寸 | 1300(宽)×1875(高)×850(深)(毫米) | |
重量 | 600公斤(本体) | |
电源 | 单相200-230V,30A-40A(断路器容量) |