水稻育种研究中，水稻表型参数至关重要，水稻表型检测仪可用于水稻株高、夹角、基粗、水稻亩穗数、理论产量、穗长、总粒数和千粒重以及水稻茎秆分析等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在水稻品种筛选、水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体，一站式解决水稻的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的水稻研究。

水稻表型检测系统技术参数

测量范围和误差：

1、水稻亩穗数测量误差： ≤±5%

2、稻穗形态测量范围：   5~20cm

3、水稻夹角测量范围：   0-180°

4、作物茎粗：        0-5.2cm

误差

穗长误差：      ±2%

夹角测量误差：  +5%

作物茎粗测量误差：   ±1mm

千粒重测量误差：     ±2%

株高测量范围：       0.1-1.5m

水稻茎秆测量误差：.....±5%