硅光电式OLED器件高温寿命测试

系统概述
高温测试系统利用高温加速OLED器件的老化，进行设定好的高温条件下的器件寿命测试。温控系统分为chamber温控、底板加热温控。

chamber加热温控范围：±20℃ - 100 ℃

底板加热温控范围： 室温 - 100 ℃
温度精度： ±1℃，温度波动±0.2℃

软件功能
（1） 测量模式：恒压、恒流、方波电流、方波电压
（2） 测量数据：测量时间、样品信息、电流、电压、光感电压、预估寿命、亮度衰减比、温度
（3） 测量图表：衰减比实时电流/电压/衰减曲线
（4） 测量时间：三个时间段设计，每个时间段可以分别设置测量时间间隔等参数
（5） 发光点测量的独立性：每个发光点可以独立设置电压或电流等参数，共有96组电压和96组电流输出,以及96组电流和电压的独立测量
（6） 光学寿命测量时,每个发光点可以独立开始和停止测量,每个发光点均可设置独立的三段测试时间和间隔.支持用户在测试过程中,增加或更换其中几片产品
（7） 图表实时查询：支持图表在测量过程中实时查询，不必等待测量结束后再看数据和图表
（8） 曲线图：支持选择电压、电流、亮度衰减、寿命时长等数据，在图表里显示曲线。
（9） 测量前预处理功能：可以设定的需要预处理的温度值、电流、电压值和时间等参数，正常测量前先以预处理条件进行老化，然后再进 入正常寿命测试程序。
（10） 数据实时存储，异常恢复后可找回数据并继续测试（中断的时间不累积，能自动减除）
（11） Datalog及Eventlog实时记录