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系统概述
硅光电寿命测试机台提供了一种经济型的OLED器件寿命测试方式,但受限于硅光电对于可见光光谱的响应曲线与CIE的人眼视觉函数不能*匹配,当器件在寿命衰减过程中光谱形状发生变化,或光谱波峰发生偏移时,其测得的相对亮度值就不在准确。
为了能测出OLED器件和亮度绝对值、色度和光谱在衰减过程中的变化,弗士达公司开发了光谱仪扫描式的OLED器件寿命测试方案。将分光辐射亮度计安装于XYZ自动移动轴上,分别扫描每个器件发光点的亮度色度和光谱数据,得到器件在寿命衰减过程中的亮度、色度和光谱随时间的变化曲线。
系统组成
1.FS-GA3机台,包括三轴直线移动控制模块
2.分光辐射亮度计
3.自动视觉对位工业相机
4.多通道定电压或定电流输出寿命测试电源;
5.多通道电压电流测量Keithley3706A;
6.多套器件测试治具,可选常温或独立温控。
7.OLED器件寿命测量软件