简易OLED IVL测量系统的无需暗室，直接放在桌上测试，提供了便携性、低成本、快速和近红外光谱测试扩展的方案。

系统组成：光谱仪1台、600um芯径光纤1根、Keithley2400数字源表1台、TEG测试治具1套、IVL测量软件1套、笔记本电脑1台。

简易OLED IVL测量系统的技术规格：

　　光谱测量范围：380～780nm(标准)；360～1100mn(可选)

　　光谱间隔：1nm

　　亮度范围：0.1～100,000 cd/m2

　　亮度精度：±2%(标准Ａ光源)

　　亮重复性：0.5%(标准Ａ光源，亮度大于1cd/m2)

　　色度精度：±0.002(标准Ａ光源)

　　色度重复性：0.001(标准Ａ光源，亮度大于1cd/m2)

TEG测试治具

　　治具顶部有光纤固定座，光纤对准待测样品的发光点位置。

　　治具上下均有探针，兼容顶发射和底发射器件。

　　治具的尺寸和探针数量位置根据待测样品进行定制。

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　　弗士达通过不断技术创新，研发出不同系列的光学测量产品。为不同的光学测量及实验研发，提供更合适的测量设备，客制化的测试方案满足不同产线上的测量需求！