多片OLED模组寿命测量寿命和光学特性自动测量系统是弗士达公司研发的用于多片OLED模组或Panel寿命测试的机台。

　　OLED模组寿命测试时，模组信号机为产品提供测试图像信号，每台信号机可扩展同时给多片OLED模组提供MIPI/RGB信号，以及分别提供多通道电源的电压和电流，产品底部配有加热平台，可以使用被测OLED模组加热到150゜C的条件下进行测量。

　　Panel寿命测试时，Panel信号机为产品提供电源及方波驱动信号，每台Panel信号机可扩展同时给多片Panel提供信号和电源。同时使用探针治具与Pane的测试点接触。待测OLED模组或Panel的数量可以根据用户要求定制。

　　多片OLED模组寿命测量的系统特点:

　　1.采用光谱仪扫描测试的方式，可以得到亮度、色度、色温和光谱数据等。同时XY轴扫描式的测量方式可支持模组表面多点不同位置的寿命衰减和均匀性测试。

　　2.工业视觉对位相机在每次测量前自动扫描所有工位的OLED的放置位置，自动识别OLED的中心点坐标和尺寸，更换不同尺寸的OLED产品时，无需人工去重新设置每片OLED的坐标位置。

　　3.将多孔陶瓷吸附台应用于柔性OLED屏体的固定，并做了大量的设计改进，保证将柔性屏吸附平整的同时不会造成像素的异常。

　　4.对于环境温度的控制要求，弗士达研发了紧凑性的高温箱，可在有限的机台空间内对屏体提供均匀的环境温度控制。温控范围：室温—100℃。

　　灵活的工位配置：

　　1.对于柔性屏和直屏等背部平滑的产品，都可以采用多孔陶瓷真空吸附台进行固定。吸附台配有真空吸力数显表。

　　2.对于屏体有温度控制的需求，可以选择铝合金加热平台。