通孔镀铜测厚仪

CD-8通孔镀铜测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2017-07-17 19:20:15
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深圳市创思达科技有限公司

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产品简介

美国UPA 通孔镀铜测厚仪。四点电阻原理,可测量PCB孔内镀铜/表面铜箔厚度

详细介绍

CD-8的运作是按照4点电阻测试原则。

DC电流的脉传传送至锥形探头,然后再用这些脉冲统一传送至要测试的孔中,探头接触器上的电伏直接通过测试孔中的铜柱,然后将其反馈至计算电阻的仪器上转换成厚度并显示。

 

 

CDP-111A 探头:

板厚度: zui小:15 英寸(0.38mm);zui大值:3/16"(5mm)

测试孔径的大小:zui小:25 mils0.62mm;zui大:大于板厚 10 mils(0.25mm)

 

CPS-112 探头:

测试孔径的大小:zui小:10 mils0.25mm;zui大:大于板厚 10 mils(0.25mm)

 

CDP-10 表面铜箔测试探头

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