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FR-pOrtable USB 驱动薄膜表征、薄膜测厚仪器
- 型号
- FR-pOrtable
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岱美有限公司（下面简称岱美）成立于1989年，是一间拥有多年经验的性高科技设备分销商，主要为半导体、MEMs、光通讯、数据存储、高校及研发中心提供各类测量设备、工序设备以及相应的技术支持，并与一些重要的客户建立了*合作的关系。
自1989年创立至今，岱美的产品以及各类服务、解决方案广泛地运用于中国大陆、香港、中国台湾、新加坡、泰国、马来西亚、菲律宾等地区。
主要产品包括有：EVG晶圆键合设备、EVG纳米压印设备、EVG紫外光刻机、EVG涂胶显影机、EVG硅片清洗机、EVG超薄晶圆处理设备、压力计、流量计、等离子电源、非接触式光学三坐标测量仪、薄膜厚度检测仪、电容式位移传感器、振动样品磁强计 (VSM)、粗糙度检测仪、电镜 (SEM)、透镜 (TEM)、原子力显微镜 (AFM)、防振台系统、三维原子探针材料分析仪 (Atom Probe)、激光干涉仪、平面／球面大口径动态激光干涉仪、氦质谱检漏仪、紫外线固化仪、碳纳米管生长设备等。
岱美中国拥有八十多名训练有素的工程师，能够为各地区用户作出快捷、可靠的技术支持和维修服务；为确保他们的专业知识得以更新及并适应新的要求，岱美定期委派工程师前往海外接受专项技术训练，务求为顾客提供更高质素的售后服务及技术支持。
总部位于中国香港的岱美分别在新加坡、泰国、中国台湾、马来西亚、菲律宾及中国大陆（上海、东莞及北京）设立了分公司及办事处，以带给客户更快捷更的销售及维修服务。
我们真诚希望和业界的用户互相合作，共同发展！！
详细信息
厂家正式*代理商：岱美有限公司
FR-pOrtable:一款USB驱动的薄膜表征工具
一、产品简介：
FR-pOrtable USB 驱动薄膜表征、薄膜测厚仪器是 一 款独 特 的 便 携 式 测 量 仪器 ， 可 对 透 明 和 半 透明 的 单 层 或 多 层 堆 叠薄 膜 进 行 精 确 的 无 损（非接触式）表征。使用 FR-pOrtable，用户可以在 380-1020nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量及薄膜厚度测量。
二、应用领域
o 大学 & 科研院所
o 半导体（氧化物、氮化
物、硅、电阻等）
o MEMS 元器件 (光刻胶、
硅薄膜等)
o LED
o 数据存储元件
o 弯曲基材（衬底）上的
硬/软涂层
o 聚合物涂层、粘合剂等
o 生物医学
（ parylene—— 派瑞林,
气泡壁厚,等等 )
o 其他更多 …
(如有需求，请与我们取得联系)
三、USB 驱动薄膜表征、薄膜测厚仪器应用
FR-pOrtable的紧凑尺寸以及定制设计的反射探头以及宽带长寿命光源确保了高精度和可重复的便携式测量。
FR-Portable既可以安装在提供的载物台上，也可以轻松转换为手持式厚度测量工具。放置在待表征的样品上方即可进行测量。
FR-Portable是用于工业环境（如R2R、带式输送机等）中涂层实时表征的可靠而精确的测厚仪。
四、产品特点
o 一键分析 (无需初始化操作)
o 动态测量
o 测量光学参数(n & k, 颜色)，膜厚
o 自动保存演示视频
o 可测量 600 多种不同材料
o 用于离线分析的多个设置
o 免费软件更新服务
五、技术参数
六、工作原理
白光反射光谱（WLRS）测量方法是在一定波长范围内，分析垂直于样品表面的入射光和从单层或多层堆叠薄膜反射的反射光谱的分析方法。
由界面&表面产生的反射光谱被用于确定独立和附着于基底（在透明或部分/全反射基底上）的堆叠膜层的厚度、光学常数（n&k）等。
北京市房山区启航3期5号楼801
www。dymek。cn
岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业 制造商和创新研发机构的*设备分销商。
