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FR-Mic 薄膜厚度、n、k测量仪器——集成显微镜
- 型号
- FR-Mic
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岱美有限公司（下面简称岱美）成立于1989年，是一间拥有多年经验的性高科技设备分销商，主要为半导体、MEMs、光通讯、数据存储、高校及研发中心提供各类测量设备、工序设备以及相应的技术支持，并与一些重要的客户建立了*合作的关系。
自1989年创立至今，岱美的产品以及各类服务、解决方案广泛地运用于中国大陆、香港、中国台湾、新加坡、泰国、马来西亚、菲律宾等地区。
主要产品包括有：EVG晶圆键合设备、EVG纳米压印设备、EVG紫外光刻机、EVG涂胶显影机、EVG硅片清洗机、EVG超薄晶圆处理设备、压力计、流量计、等离子电源、非接触式光学三坐标测量仪、薄膜厚度检测仪、电容式位移传感器、振动样品磁强计 (VSM)、粗糙度检测仪、电镜 (SEM)、透镜 (TEM)、原子力显微镜 (AFM)、防振台系统、三维原子探针材料分析仪 (Atom Probe)、激光干涉仪、平面／球面大口径动态激光干涉仪、氦质谱检漏仪、紫外线固化仪、碳纳米管生长设备等。
岱美中国拥有八十多名训练有素的工程师，能够为各地区用户作出快捷、可靠的技术支持和维修服务；为确保他们的专业知识得以更新及并适应新的要求，岱美定期委派工程师前往海外接受专项技术训练，务求为顾客提供更高质素的售后服务及技术支持。
总部位于中国香港的岱美分别在新加坡、泰国、中国台湾、马来西亚、菲律宾及中国大陆（上海、东莞及北京）设立了分公司及办事处，以带给客户更快捷更的销售及维修服务。
我们真诚希望和业界的用户互相合作，共同发展！！
详细信息
FR-Mic-薄膜厚度、n、k测量仪器——集成显微镜
厂家正式*代理商：岱美有限公司
FR-Mic: 微米级薄膜表征-厚度，反射率，折射率及消光系数测量仪
一、产品简介：
FR-Mic-薄膜厚度、n、k测量仪器——集成显微镜 是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台计算机控制的 XY 工作台，使其快速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。o 实时光谱测量o 薄膜厚度，光学特性，非均匀性测量，厚度映射o 使用集成的， USB 连接高品质彩色摄像机（CCD）进行成像
FR-Mic-薄膜厚度、n、k测量仪器——集成显微镜
二、 FR-Mic-薄膜厚度、n、k测量仪器——集成显微镜应用领域
o 大学 & 科研院所
o 半导体（氧化物、氮化物、硅、电阻等）
o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)
o LED
o 数据存储元件
o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层
o 聚合物涂层、粘合剂等
o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )
o 其他更多 …
(如有需求，请与我们取得联系)
三、 FR-Mic-薄膜厚度、n、k测量仪器——集成显微镜产品特点
o 单点分析(无需预设值）
o 动态快速测量
o 包括光学参数(n和k，颜色)
o 为演示保存视频
o 600 多种的预存材料
o 离线分析
o 免费软件更新
四、技术参数
五、工作原理
白光反射光谱（WLRS）测量方法是在一定波长范围内，分析垂直于样品表面的入射光和从单层或多层堆叠薄膜反射的反射光谱的分析方法。
由界面&表面产生的反射光谱被用于确定独立和附着于基底（在透明或部分/全反射基底上）的堆叠膜层的厚度、光学常数（n&k）等。
岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业制造商和创新研发机构的设备分销商。
