CHIPNOVA 品牌
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厦门市所在地
高分辨率和可靠性
MEMS微加工工艺,加热芯片视窗区域的氮化硅膜厚度最薄可达10nm,可达到扫描电镜极限分辨率。
优异的热学性能
1.高精密红外测温校正,微米级高分辨热场测量及校准,确保温度的准确性。
2.超高频控温方式,排除导线和接触电阻的影响,测量温度和电学参数更精确。
3.采用高稳定性贵金属加热丝(非陶瓷材料),既是热导材料又是热敏材料,其电阻与温度有良好的线性关系,加热区覆盖整个观测区域,升温降温速度快,热场稳定且均匀,稳定状态下温度波动≤±0.01℃。
4.采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式,高频反馈控制消除误差,控温精度±0.01℃。
5.DUTE多级复合加热MEMS芯片设计,控制加热过程热扩散,极大抑制升温过程的热漂移,确保实验的高效观察。
6.加热丝外部由氮化硅包覆,不与样品发生反应,确保实验的准确性。
智能化软件
1.人机分离,软件远程控制实验条件,全程自动记录实验细节数据,便于总结与回顾。
2.自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等,同时可手动控制目标温度及时间,在程序升温过程中发现需要变温及恒温,可即时调整实验方案,提升实验效率。
3.内置绝对温标校准程序,每块芯片每次控温都能根据电阻值变化,重新进行曲线拟合和校正,确保测量温度精确性,保证高温实验的重现性及可靠性。
类别 | 项目 | 参数 |
基本参数 | 台体材质 | 高强度钛合金 |
分辨率 | 扫描电镜极限分辨率 | |
适用电镜 | ZEISS、Thermo Fisher等主流电镜 | |
EBSD/EDS | 支持 |
Synthetic scheme for thepreparation of ZIF-67 crystalsand GC
SEM images
ZIF-67 after heated