美国 IK-TECHNOLOGIES 高分辨电子能量损失谱仪

HREELS高分辨电子能量损失谱仪在分辨率和信号水平方面表现的全球，现在结合我们的多通道分析仪选件（EA5000MCA），可实现数据采集速度。用于研究表面分子振动，表面声子和等离子体以及电子能级和能带隙。

• 超高分辨率0.5 meV FWHM

• 在1.0 meV分辨率（FWHM）下保证探测器电流大于或等于10pA

• 采用具有可控角度像差的新型静电偏转器

• 具有菜单驱动软件的低噪声数字控制电子设备

• 用户可选择的扫描范围高达50 eV，适用于电子振动/电子应用

• EELS原理
  

当入射电子束照射试样表面时，将会发生入射电子的背向散射现象，背向散射返回表面的电子由两部分组成，一部分没有发生能量损失，称为弹性散射电子，另一部分有能量损失，称为非弹性散射电子。·在非弹性散射电子中，存在一些具有一定特征能量的俄歇电子，其特征能量只同物质的元素有关，如果在试样上检测这些俄歇电子的数目按能量分布，就可以标定物质的各元素组成，称为俄歇电子能谱分析技术。

如果其特征能量不但同物质的元素有关，而且同入射电子的能量有关，则称它为特征能量损失电子。

如果在试样上检测能量损失电子的数目按能量分布，就可获得一系列谱峰，称为电子能量损失谱，利用这种特征能量电子损失谱进行分析，称为电子能量损失谱分析技术。

EELS理论

对低能电子能量损失谱的解释工作是建立在非弹性散射理论上。

如果入射电子从具有两维周期性晶格结构的表面散射回来时经历了—个非弹性散射过程，它将损失部分能量。

美国 IK-TECHNOLOGIES 高分辨电子能量损失谱仪的应用

EELS谱可做包括氢在内的指纹鉴定，也可做表面结构分析。在指纹鉴定时只要参照被分析原子的红外吸收光谱，将电子能量损失谱跟红外吸收谱进行比较就能做出鉴定。

关于结构分析，它所给出的信息是关于微区的，局域的，这与LEED不同，LEED所处理的问题是长程有序表面的结构。对样品的破坏作用小，适合研究气体在固体表面的吸附。而且对吸附有很高的灵敏度，可以对<0.1%单原子层的吸附做常规分析，这些分析包括化学物品在表面的吸附及吸附层在化学反应过程中所产生的中间物的鉴定。

它的应用包括研究固体上的催化反应，金属表面的腐蚀等。