多片OLED器件IVL测量

主要应用于OLED材料和OLED屏体生产厂家，满足客户大批量的OLED器件的IVL特性和亮度特性测试需求。

OLED发光器件的IVL测试，如电流密度、电压、电流效率、流明效率、1931色坐标、亮度、QE、光谱、电流、1976色坐标，并可选配底板加热，进行预定的高温下的对应测试。

多种机型可选，工位灵活配置。

系统特点

1.大批量器件的测试
系统配有多通道电路选择器，可支持多达24片共96个发光点的OLED器件依次点亮测试（具体器件和发光点数量可定制）。测试前可预点亮所有发光点以确认器件是否均正常。

2.发光区域中心自动对位识别
工业视觉对位CCD自动识别发光点位置，不管是垂直测IVL还是旋转器件测视角亮度，始终保证测量点对准发光区域中心。

3.大视角范围测试
即使是3*3mm的发光点，在测视角时仍可以满足75度视角以上的测试要求。同时工业视觉对位相机可修正旋转时产生的测量点偏差，保证大视角下测量点依然对准器件发光中心。

4.高低温温控箱
可选配高低温箱（温控范围：-40-100℃）

5.光谱仪的高速测量
为节省低辉度下的光谱仪测量时间，弗士达支持CS-2000A的高速Dll模式并对其优化，以实现亮度大量程和快速测量的结合，以节省测量时间，提高机台的测试效率