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Helios 5 DualBeam

型号
赛默飞电子显微镜

高级会员2年 

生产厂家

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扫描电子显微镜,双束电镜,透射电子显微镜,冷冻电镜,X射线光电子能谱仪,三维可视化软件
FEI公司,2016年被赛默飞世尔科技收购,成为赛默飞材料与结构分析(MSD) 电镜事业部,是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM,透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam FIB-SEM,结合先进的软件套件,运用广泛的样本类型,通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合,使客户的问题变成有效可用的数据。

详细信息

Helios 5 DualBeam

用于 TEM 和 STEM 成像或原子探针断层扫描的样品制备。产品可实现先进的自动化操作,简单易用,并且能够进行高质量的亚表面 3D 表征

新一代 Thermo Scientific Helios 5 DualBeam 具有 Helios DualBeam 显微镜产品系列业界的高性能电子显微镜成像和分析性能。它经过精心设计,可满足材料科学研究人员和工程师对各种聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 的需求  - 即使是挑战性的样品。

主要特点

高质量样品制备

使用高通量 Thermo Scientific Tomahawk 离子镜筒或具有无人可比低电压性能的 Thermo Scientific Phoenix 离子镜筒为 S/TEM 和 APT 分析制备自定义样品。

以最短时间获得纳米级信息

使用的 Thermo Scientific Elstar 电子镜筒为任何经验水平的用户提供 Thermo Scientific SmartAlign 和 FLASH 技术支持。

完整的样品信息

可通过多达 6 个集成在色谱柱内和透镜下的集成检测器获得清晰、精确且无电荷的对比度。

快速纳米原型设计

对临界尺寸小于 10 nm 的复杂结构进行快速、准确、精确的铣削和沉积。

无伪影成像

基于集成的样品清洁度管理和专用成像模式,例如 DCFI 和 SmartScan 模式。

全自动

使用可选配的 AutoTEM 5 软件进行快速、简单、 全自动、无人值守的多现场原位非原位 TEM 样品制备以及交叉切片。

新一代 UC+ 单色器技术

凭借具有更高电流的新一代 UC+ 单色器技术,可以在低能量下实现亚纳米性能,从而显示最细致的细节信息。

3D 分析

使用可选配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 软件通过精确靶向目标区域而获得高质量、多模式的亚表面和 3D 信息。

精确的样品导航

在 150-mm 压电载物台的高稳定性和准确性或 110-mm 载物台的灵活性以及腔室内 Thermo Scientific Nav-Cam 摄像机的支持下根据具体应用需求进行定制。

STEM 成像

Thermo Scientific Helios 5 FX 的配置具有的原位 3Å 分辨率 STEM 功能,可提供高高效的工作流程。

电镜设备的规格

若要查看 Helios 5 HX DualBeam 和 Helios 5 FX DualBeam 的规格,请下载文档部分中的数据表。

半导体应用规格























































材料科学应用规格





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