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Scios 2 DualBeam

型号
赛默飞电子显微镜

高级会员2年 

生产厂家

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扫描电子显微镜,双束电镜,透射电子显微镜,冷冻电镜,X射线光电子能谱仪,三维可视化软件
FEI公司,2016年被赛默飞世尔科技收购,成为赛默飞材料与结构分析(MSD) 电镜事业部,是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM,透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam FIB-SEM,结合先进的软件套件,运用广泛的样本类型,通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合,使客户的问题变成有效可用的数据。

详细信息

Scios 2 DualBeam聚焦离子束扫描电子显微镜,用于超高分辨率、高质量样品制备和 3D 表征

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析 聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 系统,可为包括磁性和非导电材料在内的各种样品提供出色的样品制备与 3D 表征性能 。通过创新的功能设计提高了通量、精度以及易用性,是满足科学家和工程师在学术、政府以及工业研究领域高级研究和分析需求的理想解决方案。

主要特点


快速、便捷的制备

使用 Sidewinder HT 离子柱获得高质量、现场特定的 TEM 和原子探针样品。

最完整的样品信息

通过各种集成式色谱柱内和透镜下检测器获得清晰、精确和无电荷的对比度。

精确的样品导航

高度灵活的 110 mm 载物台和腔室内 Thermo Scientific Nav-Cam 摄像机允许根据具体应用需求进行定制。

优化您的解决方案

灵活的 DualBeam 配置,包括可选配的最高 500 Pa 腔室压力低真空模式,可满足具体的应用要求。

使用 Sidewinder HT 离子柱获得高质量、现场特定的 TEM 和原子探针样品。

超高分辨率成像

使用在泛的样品范围(包括磁性和非导电材料)内具有性能的 Thermo Scientific NICol 电子色谱柱。

高质量、多模式亚表面和 3D 信息

使用可选配的 AS&V4 软件,通过精确靶向感兴趣区域来获得高质量、多模式亚表面和 3D 信息。

无伪影成像和构成图案

具有专用模式,如 DCFI、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式。

规格

电子束分辨率
  • 最佳 WD

    • 在 30 keV STEM 下为 0.7 nm

    • 在 1 keV 下为 1.4 nm

    • 在 1 keV(射束减速)下为 1.2 nm

电子束参数空间
  • 电子束电流范围:1 pA 至 400 nA

  • 着陆能量范围:20* eV – 30 keV

  • 加速电压范围:200 V – 30 kV

  • 最大水平射野宽度:7 mm WD 时为 3.0 mm,60 mm WD 时为 7.0 mm

  • 可通过标准导航剪辑提供超宽视野 (1×)

离子光学系统
  • 加速电压:500 V – 30 kV

  • 电子束电流范围:1.5 pA – 65 nA

  • 15 位置光阑条

  • 漂移抑制模式,为非导电样品的标准模式

  • 最小离子源寿命:1,000 小时

  • 离子束分辨率:选择角方法下 30kV 时为 3.0 nm

检测器
  • Trinity 检测系统(镜筒内和色谱柱内)

    • T1 分段式下镜筒内检测器

    • T2 上镜筒内检测器

    • T3 可伸缩色谱柱内检测器(可选配)

    • 多达 4 个同时检测的信号

  • Everhart-Thornley SE 检测器 (ETD)

  • 用于二级离子 (SI) 和二级电子 (SE) 的高性能离子转换和电子检测器 (ICE)(可选配)

  • 可伸缩、低电压、高对比度、分段式、固态反向散射电子检测器 (DBS)(可选配)

  • 带 BF/DF/HAADF 分段的可伸缩 STEM 3+ 检测器(可选配)

  • 查看样品和腔室的 IR 摄像机

  • 腔室内 Nav-Cam 样品导航摄像机(可选配)

  • 集成的光束电流测量

载物台和样品

灵活的 5 轴电动平台:

  • XY 范围:110 mm

  • Z 范围:65 mm

  • 旋转:360°(无限)

  • 倾斜范围:-15° 至 +90°

  • XY 重复性:3 μm

  • 最大样品高度:与共心点间距 85 mm

  • 0° 倾斜时的最大样品重量:5 kg (包括样品架)

  • 最大样品尺寸:旋转时 110 mm(也可以是更大的样品,但旋转有限)

  • 计算中心旋转和倾斜





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