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这款四点探针系统用于快速测量材料的片电阻、电阻率和电导率。四点探针系统包括一个四点探针、源测量单元和易于使用的PC软件。
该四点探针系统不适用于测量形成天然绝缘氧化物（如硅）的材料的性能。
四点探针系统特点
宽电流范围-四点探针能够提供10毫安到150毫安之间的电流，并且可以测量低至100μV到10 V的电压。该系统可以测量100 mΩ/□到10 mΩ/□范围内的片电阻，从而能够描述各种材料的特性。
易于使用-只需插入系统，安装软件，你就可以开始了！直观的界面和简洁的设计使四点探针易于使用，简化了对薄板电阻的测量。可以使用各种形状和尺寸的基底。
高精度-正负极性测量可以使用PC软件进行。这使您能够计算正负电流之间的平均片电阻-消除可能发生的任何电压偏移，从而提高测量精度。
无损检测-设计时考虑到精密样品的测量，四点探针头采用镀金、柔和的弹簧加载触点和圆形尖头。这将产生60克的恒定接触力，防止探针穿透易碎的薄膜，同时仍然提供良好的电接触。
节省空间的设计-通过仔细的设计考虑，我们能够将四点探头的占地面积保持在最小（总工作台面积为14.5 cm x 24 cm），即使在缺乏货架空间的繁忙实验室也可以使用。
快速材料表征-PC软件（包括在系统中）执行所有必要的测量和计算薄板电阻，电阻率和导电性-使材料表征毫不费力。它还自动执行校正系数计算。
| Voltage range | ±100 μV to ±10 V |
| Current range | ±1 μA to ±150 mA |
| Sheet resistance range | 100 mΩ/□ to 10 MΩ/□ (ohms per square) |
| Sheet Resistance | Accuracy* | Precision** | Measured at Range |
| 100 mΩ/□ | ±8% | ±3% | 1 |
| 1 Ω/□ | ±2% | ±0.5% | 1 |
| 10 Ω/□ | ±1% | ±0.5% | 1 |
| 100 Ω/□ | ±1% | ±0.05% | 2 |
| 1 kΩ/□ | ±1% | ±0.03% | 2 |
| 10 kΩ/□ | ±1% | ±0.02% | 3 |
| 100 kΩ/□ | ±2% | ±0.05% | 4 |
| 1 MΩ/□ | ±8% | ±0.5% | 5 |
| 10 MΩ/□ | ±30% | ±5% | 5 |
*Accuracy is the maximum deviation from the true value.
** Precision is the maximum deviation between identical measurements (useful for comparative measurements).
| Probe Spacing | 1.27 mm |
| Rectangular Sample Size Range | Long Edge Minimum: 5 mm Short Edge Maximum: 60 mm |
| Circular Sample Size Range (Diameter) | 5 mm to 76.2 mm |
| Maximum Sample Thickness | 10 mm |
| Overall Dimensions | Width: 145 mm Height: 150 mm Depth: 240 mm |
