半自动高低温探针台采用signatone探针台技术实现300mm尺寸晶圆探针台测试,属于半自动RF/DC/CV测试高功率探针台。
半自动高低温探针台特点
专为各种晶片上分析和半成品应用而设计
射频应用2和4端口设置
直流、CV/IV、脉冲–IV应用
IC设计/测试验证环境+300°C
温度范围为60°C至+300°C
外壳EMI/RFI/不透光屏蔽
用于精确测量的局部外壳
专为高级EMI/RFI/不透光屏蔽。
FemtoAmp低泄漏水平
产品多功能性
设计用于所有或部分晶圆探测
推出位移台，便于晶圆加载
主动隔振台（可选）
半自动高低温探针台可选项和配置
本地机柜支持4倍射频+2倍直流或
8x直流微型定位器/4.5英寸宽探针卡
有多种配置，包括
多种卡盘选项，直流/射频/高功率定位器、计算机辅助探头、显微镜，相机，
半自动高低温探针台推出型位移台
推出式位移台设计，便于装载和安装晶圆样品和单个集成电路的卸载
非常适合与探测卡和multi
探测/复杂设置
方便使用辅助卡盘
锁定和解锁位置指示器
演示文稿285mm/95%
锁定/解锁指示灯
简化了本地机柜选项的使用

半自动高低温探针台具体规格和参数请来索取