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ES62X-LVS 型低压浪涌系统能够输出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002标准的雷电浪涌特性波形，用于晶圆级和封装级器件的浪涌敏感度测试。系统具有瞬态波形测量和静态IV曲线测试功能，便于确定被测器件的ESD损伤阈值。
脉冲发生器的设计和脉冲输出方法保证了被测器件端（而非发生器输出端）的波形性能。系统能够获取浪涌脉冲注入时的瞬态电流和电压波形，用于分析包括ESD保护器件开启电压等级在内的被测器件ESD特性。通过对比脉冲注入时的电压波形变化，还能够判定故障等级。
1V至500V电压范围内波形干净，线性度高
全隔离的放电电路
软件控制，自动化测量
损伤阈值自动监测（含DC漏电测量及静态IV扫描）
基于IEC61000-4-5 8 /20μs标准，进行电源、驱动PCB、通信系统、LCD显示屏等模块的浪涌抗扰度测试
进行晶圆、封装和PCB级的浪涌脉冲敏感度测试
10 /1000μs波形的晶圆、封装、PCB和系统级浪涌敏感度和抗扰度测试
| 参数 | LVS-500-8/20 选项 | LVS-500-10/1000 选项 | 单位 |
| 输出电压（开路负载） | 1 – 500 | 1 – 500 | V |
| 输出电流（短路负载） | 0.5 – 250 | 0.12 – 55 | A |
| 输出精度 | ± 5 % | ± 5 % | % |
| 输出电阻 | 2 ± 10% | 9 ± 10% | Ω |
| 短路电流波前时间 | 8 ± 20 % | 10 – 40 % | µs |
| 短路电流半峰值时间 | 20 ± 20 % | 1000 +20 % | µs |
| 开路电压波前时间 | 1.2 ± 30 % | 10 – 40 % | µs |
| 开路电压半峰值时间 | 50 ± 20 % | 1000 +50 % | µs |
| 尺寸 | 347 X 300 X 145 | mm | |
| 重量 | 12 | kg | |
| 电压探头 | 无源电压探头, 101:1 | ||
| 电流探头 | 无源电流探头, 0.1 V/A | ||
| 编号 | 型号 | 描述 |
| 低压浪涌IV曲线系统 | ||
| 1.0 | ES62X-LVS | ES62X-LVS 低压浪涌系统主机 |
| 1.1 | LVS-500-8/20 | 8/20 低压浪涌模块, 最大电压500V |
| 1.2 | LVS-500-10/1000 | 10/1000 低压浪涌模块, 最大电压 500V |
| 其他选项 | ||
| 2.1 | KSMU2400 | SMU, 200V, 1A, 20W, 单通道 (被测器件DC自动失效检测)) |
| 2.2 | ES62X-CMPS | 简易手动探针台 |
| 2.3 | ES62X-XYZM-TIM | XYZ 微动探针座, XYZ 行程500 mils，步进0.01mm |
| 2.4 | ES62X-XYZM-PAA | PCB 电压测量探针臂组件 |
| 2.5 | ES62X-XYZM-GAA | 接地探针臂组件 |
| 2.6 | ES62X-XYZM-PP048 | 048 弹簧探针 |
| 2.7 | ES62X-XYZM-PP075 | 075 弹簧探针 |
| 2.8 | ES62X-XYZM-TN1 | 钨钢针 – 针尖尺寸5 mils ES62X-LVS低压浪涌系统 |
