OTSUKA/日本大冢 品牌
生产厂家厂商性质
苏州市所在地
非接触式膜厚仪Eimos设备操作简单，放置样品即可测量的。一步到位。
缩短检查工程，无标准曲线，精度高，分辨率高，轻松测量样品的厚度。
光学方式为大冢电子*，不仅外形小巧，无论透明、粗糙还是易变形的样品，都可以实现非接触式的高精度测量。
非接触式膜厚仪特点：
式样
| AT-1500 | |
| 厚度范围 | 10μm~1.5mm |
| 重复性 | 0.1μ(2σ)以下(测量1nm的guage black) |
| 样品尺寸 | 小Φ10mm，大100mm (测量位置在中间部) |
| 测量径 | 约50μm |
| 测量时间 | 1秒以下 |
| 装置尺寸·重量 | W300×D364×H400(mm)·20(kg) (本体部：开发过程中可能发生变更) |
| 电源 | AC100-220V/200V |
构成图/原理
1)构成图
任何人都会使用大塚电子非接触式光学膜厚仪 Eimos进行测量
2)原理
将光分别照射样品上下部
测量距离基准面的距离。
d=dall-(d1+d2)
比较测量方法
样品例子和测量方法的比较
| 非接触光学膜厚仪 | 接触式膜厚仪 | X线式膜厚仪 | 変位計 | ||
|---|---|---|---|---|---|
| 样品 | 凝胶片 | ○ | × | ○ | ○ |
| 不织布 | ○ | × | ○ | × | |
| 金属板 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
| 树脂 | ○ | ○ | ○ | ○ | |
| 多孔质 | ○ | △ | ○ | × | |
| 陶瓷 | ○ | ○ | ○ | × | |
| 紙?木 | ○ | ○ | ○ | × | |
| 测量 条 件 | 测量时间 | ○ 高速 | ○ | ○ | ○ |
| 非接触测量 | ○ 非接触 | × | ○ | ○ | |
| 前处理 | ○ 不要 | ○ | × | ○ | |
测量案例
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