OTSUKA/日本大冢 品牌
生产厂家厂商性质
苏州市所在地
线扫描膜厚仪可在线检查整面宽幅薄膜,适用于生产。不受偏差的影响,高速测量,时间间隔仅10豪秒。
线扫描膜厚仪特点
式样
测量项目 | 膜厚(FFT) |
位置分解能 | 1mm |
测量宽幅 | 500mm |
波长范围 | 400~920nm |
各单元的波长宽幅 | 约0.6nm |
膜厚测量范围 | 2~250μm |
测量间隔 | 10msec~ |
测量案例
500mm宽的包装薄膜
实时测量,全宽、全长的不均匀性一幕了然。
因为我们是分光膜厚测量的,所以能实现高精度全宽·全长的测量。