OTSUKA/日本大冢 品牌
生产厂家厂商性质
苏州市所在地
嵌入式膜厚检测仪可高精度测量具有波长依存性的多层膜!
产品信息
特 点
•采用分光干涉法
•搭载高精度FFT膜厚解析系统
•使用光学光纤,可灵活构筑测量系统
•可嵌入至各种制造设备。
•实时测量膜厚
•可对应远程操作、多点测量
•采用寿命长、安全性高的白色LED光源
测量项目
·多层膜厚解析
用 途
•光学薄膜(超硬涂层、AR薄膜、ITO等)
•FPD相关(光刻胶、SOI、SiO2等)
设备构成
单点型
•半导体晶圆的面内分布测量
•玻璃基板的面内分布测量
多点型
•实时测量
•流向品质管理
•真空室适用
导线型
•实时测量
•宽度方向品质管理
测量案例
超硬涂层的膜厚解析