产品概述

入门手动探针台，用于表面耦合和水平边缘耦合

FormFactor推出了一种具有成本效益的硅光子学测量解决方案，以支持新兴应用的基础研究工作。该系统的设计是FormFactor多年开发自动光子测量系统的经验 - 现在根据大学和其他入门用户的需求量身定制。

MPS150-SiPh 可确保光纤可以精确对准，从而在不发生物理接触的情况下将光耦合进出设备。MPS150-SiPh 利用其直观的设计，是经验不足的用户发现光子学并获得高精度测试结果的解决方案。

主要特点

镜面反射镜技术

• DUT 支架可实现高精度水平观察

• CalVue 和 DieVue 使用户能够调整光学探头以实现佳测量性能

• 允许对单根光纤和光纤阵列进行表面耦合和水平边缘耦合

倾斜底座定位器

• 在 6 个自由度内手动或自动调整入射角

• 利用标准光纤支架

光学性能

• 系统可以配备FormFactor革命性的eVue数字成像系统或高性能SlimVue显微镜

• eVue 的革命性设计在光学分辨率、数字变焦和实时运动视频之间实现平衡。该系统使导航、观察和测量设备比以往任何时候都更快、更智能。

• SlimVue™ 显微镜可减轻光子学集成电路 （PIC） 上小焊盘探测所需的高放大光学元件的机械干扰。

• 该系统使用户能够比以往任何时候都更快、更智能地导航、观察和测量设备  

• Spectrum 软件允许用户测量 z 位移 

模块化解决方案

• 如果用户的测量要求发生变化，可以很容易地更换探针硬件

• 提供大的测量灵活性：压板扩展件可配置为执行 3 端口光子学和/或电气测量

• 可以配置自动定位器以获得更快的测量结果。

易用性

• 符合人体工程学的简单设计，操作舒适轻松

• 直观的操作工作流程使所有经验水平的测量都尽可能简单

• 通过拉出阶段快速且符合人体工程学地更换 DUT