电子枪
与分析仪输入透镜同轴的电子枪用于在使用单色 X 射线源分析非导电样品时进行电荷补偿,而不使用磁透镜时,双束电子枪产生两种低能离子,以协助提供有效的电荷补偿和低能电子。
FEI/赛默飞 品牌
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上海市所在地
结合了高灵敏度、高分辨率定量成像以及表面分析多技术联用能力的 Thermo Scientific™ ESCALAB™ QXi X射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针将满足您对提高分析性能和灵活性的需求。
ESCALAB QXi XPS微探针是一种可扩展和优化的多技术仪器,具有的灵活性和可配置性。它非常灵敏,可在几秒钟内产生高质量的光谱。系统控制、数据采集、处理和报告无缝集成在强大的 Thermo Scientific Avantage 数据系统中。由直观EM软件驱动的技术保证了的结果和生产力。ESCALAB QXi XPS微探针具有的双检测器系统,还提供具有出色空间分辨率的优质 XPS 成像。
双晶微聚焦单色器带有 500 mm 罗兰圆,使用铝阳极(或有双单色器选项的铝银双阳极),测试光斑尺寸在 200 µm 到 900 µm 范围内可选。
ESCALAB QXi XPS微探针上的透镜和分析仪系统针对光谱学和平行成像进行了优化;单一分析仪路径意味着相同的仪器参数(例如,通过能)可用于谱图和成像。
ESCALAB QXi XPS微探针有两个选项用于快速、高分辨率的深度剖析:标准 EX06 离子枪,针对单粒子模式离子溅射和离子散射光谱进行了优化;以及可选的单粒子和团簇离子源 MAGCIS,它能够应用于单粒子离子剖析、离子簇剖析和离子散射光谱分析。
包含铜、银和金样品的标准块可用于评估灵敏度、设置分析仪能量标度的线性度、校准离子源、校准 X 射线单色器以及确定分析仪的转换功能。
计算机控制的 5 轴高精度转换器 (HPT) 可实现准确的样品对齐以进行分析。当与新的自动样品装载系统结合使用时,它可用于自动更换样品架和运行预设实验树。
ESCALAB QXi的标准前处理室是一个组合式的样品入口锁和制备室,具有可容纳各种样品制备设备的端口,例如加热/冷却探针、离子枪、高压气室、样品停放装置和气体入口。
与分析仪输入透镜同轴的电子枪用于在使用单色 X 射线源分析非导电样品时进行电荷补偿,而不使用磁透镜时,双束电子枪产生两种低能离子,以协助提供有效的电荷补偿和低能电子。
ESCALAB QXi XPS微探针配备了两个检测器系统:一个针对光谱进行了优化,由一组六通道电子倍增器组成,另一个用于平行成像,由一对通道板和一个连续位置敏感探测器组成。
ESCALAB QXi的所有分析功能均由基于 Windows 软件的 Avantage 数据系统控制,这意味着可以根据需要远程执行整个分析过程。
ESCALAB QXi的样品台上的所有运动轴均由 Avantage 数据系统控制,仪器上安装了高分辨率数码摄像机,并与分析位置准确对齐。
ESCALAB QXi的分析室由 5 mm 厚的高导磁合金构成,以最大限度地提高磁屏蔽效率,并使用涡轮分子泵和钛升华泵对分析室进行抽气,使分析室的真空度优于 5 x 10-10毫巴。
测量坐标可以通过Thermo Scientifc Maps软件从专用显微镜系统导入Avantage数据系统,从而更快地识别测量区域。可以将 XPS 光谱和成像数据添加至 Maps 软件中,以便直接比较表面化学和结构信息。
单色 X 射线源 |
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分析 |
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离子源 |
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真空系统 |
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样品台 |
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包括标准分析技术 |
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可选的分析技术 |
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可选配件 |
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样品制备选项 |
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