FEI/赛默飞 品牌
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集成能谱场发射扫描电镜
面议赛默飞矿物参数自动定量分析系统
面议ESCALAB QXi X 射线光电子能谱仪微探针
面议Nexsa G2 表面分析系统
面议K-Alpha X 射线光电子能谱仪系统
面议Aquilos 2 Cryo FIB
面议Helios 5 Hydra DualBeam
面议200 kV冷冻透射电镜 Glacios 冷冻 TEM
面议300 kV冷冻透射电镜 Krios G4 Cryo-TEM
面议100 kV冷冻透射电镜 Tundra Cryo-TEM
面议高称度冷冻透射电镜 Talos F200C TEM
面议最深入的材料分析透射电镜 Talos F200X TEM
面议新一代 Thermo Scientific Helios 5 DualBeam 具有 Helios DualBeam 显微镜产品系列业界的高性能电子显微镜成像和分析性能。它经过精心设计,可满足材料科学研究人员和工程师对各种聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 的需求 - 即使是挑战性的样品。
高质量样品制备
使用高通量 Thermo Scientific Tomahawk 离子镜筒或具有无人可比低电压性能的 Thermo Scientific Phoenix 离子镜筒为 S/TEM 和 APT 分析制备自定义样品。
以最短时间获得纳米级信息
使用的 Thermo Scientific Elstar 电子镜筒为任何经验水平的用户提供 Thermo Scientific SmartAlign 和 FLASH 技术支持。
完整的样品信息
可通过多达 6 个集成在色谱柱内和透镜下的集成检测器获得清晰、精确且无电荷的对比度。
对临界尺寸小于 10 nm 的复杂结构进行快速、准确、精确的铣削和沉积。
基于集成的样品清洁度管理和专用成像模式,例如 DCFI 和 SmartScan 模式。
使用可选配的 AutoTEM 5 软件进行快速、简单、 全自动、无人值守的多现场原位和非原位 TEM 样品制备以及交叉切片。
凭借具有更高电流的新一代 UC+ 单色器技术,可以在低能量下实现亚纳米性能,从而显示最细致的细节信息。
使用可选配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 软件通过精确靶向目标区域而获得高质量、多模式的亚表面和 3D 信息。
在 150-mm 压电载物台的高稳定性和准确性或 110-mm 载物台的灵活性以及腔室内 Thermo Scientific Nav-Cam 摄像机的支持下根据具体应用需求进行定制。
Thermo Scientific Helios 5 FX 的配置具有的原位 3Å 分辨率 STEM 功能,可提供高高效的工作流程。
若要查看 Helios 5 HX DualBeam 和 Helios 5 FX DualBeam 的规格,请下载文档部分中的数据表。