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Canon FPA5000 ES3 扫描式光刻机
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深圳市矢量科学仪器有限公司是集半导体仪器装备代理及技术服务的高新技术企业。
致力于提供半导体前道制程工艺装备、后道封装装备、半导体分析测试设备、半导体光电测试仪表及相关仪器装备维护、保养、售后技术支持及实验室整体服务。
公司目前已授实用新型权利 29 项,软件著作权 14 项,是创新型中小企业、科技型中小企业、规模以上工业企业。
1. 产品概述
Canon FPA5000 ES3扫描式光刻机,主要用于6寸、8寸及12寸生产线,广泛应用于化合物半导体、MEMS、LED等域。
2. 设备特点
投影放大倍率:1/4 X,曝光光:(248nm DUV)。数值孔径:(0.73~0.60,以 0.01 为增量),视场尺寸:26x33mm。曝光光:DUV(深紫外线)。强度: 低 17,000 w/m2。均匀度:+/- 1.0%。遮蔽刀片精度:最大 +/- 80 μm。
分辨率:<0.13μm 或更小。焦深:最小 R 0.6μm,图像表面宽度:R 0.12μm 或更高,畸变度:<± 10μm。对焦/调平性能:聚焦重复性:<60nm (3sigma),调平重复性:<4ppm (3sigma),最小补偿范围:>100ppm。步长精度:17nm (3sigma),缩放比例:<±0.5ppm,正交度:<±0.5ppm。标线旋转精度:<±0.3ppm。晶圆对准:<0.025μm 平均值 + 3sigma。光罩旋转重复性:<R0.7ppm。标准尺寸:6 英寸方形 t=0.25 英寸(Patticle 检查器)。材质: 石英。图案材料:2 层 CR、3 层 CR。薄膜框架:仅图案侧支架 = 6.3mm。光罩颗粒检查器规格:检测分辨率:图案表面:>0.6μm。玻璃表面:>15μm,表层表面:>20μm,检测重复性: >95%,晶圆尺寸:标准 8 英寸(8 英寸至 12 英寸 SEMI 标准,JEIDA,缺口/平面,可选),吞吐量:125wph (30 shot)22mm ( 8“ 晶圆),吞吐量:73wph (64shot)22mm ( 12“ 晶圆),环境室规格:清洁度:1级(>0.1μm),控温精度:+/- 0.1*C 以内。腔室类型:CD140,空调:BCU-900,制冷剂:P3419481YH,调节剂:SC-216440。
佳能开发了一系列半导体光刻设备,旨在满足除传统半导体晶圆加工之外的广泛应用的技术要求。
半导体芯片(也称为集成电路,Integrated Circuit, IC)生产主要分为 IC 设计、 IC 制造、 IC 封测三大环节。 IC 设计主要根据芯片的设计目的进行逻辑设计和规则制定,并根据设计图制作掩模以供后续光刻步骤使用。 IC 制造实现芯片电路图从掩模上转移至硅片上,并实现目标芯片功能,包括化学机械研磨、薄膜沉积、光刻、刻蚀、离子注入等步骤。 IC 封测完成对芯片的封装和性能、功能测试,是产品交付前的最后工序。