TESCAN CLARA超高分辨场发射扫描电子显微镜 的分辨率可以达到亚纳米级别，能够揭示材料细微的结构。 TESCAN *的 Wide Field Opticls™ 技术帮助您在大视野下全方面了解样品的构成（小放大倍数可至2倍），从而快速定位感兴趣的区域。

TESCAN CLARA 在低电压下仍保持了出色的分辨率，因而不仅适用于样品极表面进行形貌观察，同时也是表征光敏样品和非导电样品的理想选择。 TESCAN CLARA ，不仅在低电压下拥有非常高的分辨率，而且能够通过选择二次电子和背散射电子的不同衬度，来探索样品可能包含的大量信息，因而是分析测试中心或材料科学研究实验室选择。

*的镜筒内 BSE 探测器设计可以根据能量和角度不同选择信号 
镜筒内 BSE 探测器所安装的特殊位置使得它可以同时采集不同 “出射”角度的背散射电子（BSE）。 Axial BSE 探测器收集近轴背散射电子信号，而 Multidetector（BSE）则收集中角背散射电子信号， 这两个信号是明显不同的。 通过 Axial BSE 探测器我们可以抑制不希望看到的由于样品的表面形貌引起的干扰，从而观察到材料成分衬度。 相比之下，Multidetector（BSE）收集中角背散射电子，获得既有成分衬度又有形貌衬度的图像，但更凸显表面形貌的特点。 Multidetector 配有一个能量过滤器，可以实现二次电子信号和背散射电子信号的能量过滤，以便增强背散射电子的衬度。

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